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电子能量损失光谱术（EELS）是研究表面科学的重要工具.在过去的30年中,EELS已成为透射电子显微镜（TEM）的一种标准的分析技术,用于测量材料表面原子级的化学性能、结构信息和物理性能.本书的前两版已成为EELS的标准参考书,讲述了EELS的各种仪器,以及相关的物理学内容和分析程序.近几年,透镜像差校正器及电子束单色器已商品化,它提高了EELS的空间分辨率,这方面是新版的主要新增内容.此外,新版还介绍了在电子-散射理论、光谱及图像处理方面的新进展,以及纳米技术的应用等.附录中新增了非弹性平均自由程的列表,以及用于计算EELS数据的20多个MATLAB的程序.

第3版保留了老版的结构,但是各章都作了修改.本书共5章：1.EELS引言：提升了老版中该章的内容；2. 能量-损失仪器：压缩了有关串行记录方面的讨论,增加了单色器和电子检测器的信息；3. 电子散射物理学：增加了各向异性能量损失材料方面的内容,这些材料的能量损失是由于弹性散射、延迟效应、切伦科夫效应（Cerenkov）以及中心激发引起的；4. 能量-损失数据的定量分析：增加了贝斯去卷积（Bayes）、多变量统计分析以及ELNES模拟的内容；5. EELS在TEM中的应用：讨论了分析的空间分辨率极限.书的末尾有六个附录,以及主题索引.

本书著者埃格登博士是加拿大埃尔伯塔大学（University of Alberta）物理系教授.他是电子显微镜领域的著名专家,曾发表过大量的论著.他的研究兴趣包括分析电子显微镜（TEM, EDX, EELS）、光电子显微镜（PEEM）、薄膜及纳米结构材料（电子束平印术）以及辐射效应等.

如何写物理学一篇好的本科论文
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本书适合于大学物理系或化学系的本科生和研究生阅读,也是电子显微镜专业工作者的有益参考书.

刘克玲,退休研究员

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